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XRAY檢測(cè)設(shè)備在電子檢測(cè)元器件中的應(yīng)用

更新更新時(shí)間:2023-05-31

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對(duì)于元器件批量生產(chǎn)如何做好質(zhì)量控制呢,對(duì)于人工目測(cè)來說,是無可奈何的,尤其是重點(diǎn)產(chǎn)品,比如芯片封裝檢查,PCBA焊接檢查等內(nèi)部異常,就需要XRAY檢測(cè)設(shè)備的X射線成像技術(shù),相關(guān)概括整理有以下幾點(diǎn)。


1.測(cè)試結(jié)果有底片:

由于底片上記錄的信息非常豐富,能長(zhǎng)期保存,X射線成像成為產(chǎn)品無損檢測(cè)方法中真實(shí)、直觀、全面、可追溯的檢測(cè)方式。


2.檢測(cè)產(chǎn)品缺陷的定性和定量準(zhǔn)確:

XRAY檢測(cè)設(shè)備可以透視缺陷,并獲得差異化的黑白圖像,在產(chǎn)品無損檢測(cè)方式中,X射線相對(duì)缺陷的定性和定量分析具有標(biāo)準(zhǔn)性。在定量方面,對(duì)于體積缺陷(氣孔和夾渣)的長(zhǎng)度和寬度的確定,其誤差在零點(diǎn)幾毫米左右。但對(duì)于面積型缺陷(如裂紋、未熔合),如果缺陷端的尺寸(張口高度和寬度)很小,則底片圖像上的延伸可能分辨不清,此時(shí)的定量數(shù)據(jù)就會(huì)偏小。


3.體積缺陷的檢出率高:

XRAY檢測(cè)設(shè)備對(duì)產(chǎn)品體積缺陷檢測(cè)率高,而面積缺陷的檢出率受多種因素影響。體積缺陷是指氣孔和夾渣缺陷。面積缺陷是指裂紋和未熔合類缺陷,影響檢出率的因素包括缺陷形狀和大小、透照厚度、透照角度、透射幾何條件、光源和膠片類型、像質(zhì)計(jì)靈敏度等。


4.適用于厚度較薄的檢驗(yàn)工作:

適合檢查薄工件,具體情況可以拿樣品進(jìn)行測(cè)試,對(duì)于厚工件需要高性能的XRAY檢測(cè)設(shè)備。由于隨著厚度的增加,X射線透視的靈敏度相對(duì)沒有那么高。


5.測(cè)試對(duì)接焊縫:

適用于檢測(cè)對(duì)接焊縫,對(duì)于檢測(cè)角焊縫效果一般,不適宜板材、楱材和鍛件時(shí)等角焊縫,因?yàn)椴贾帽容^困難。成像黑度變化大影響質(zhì)量。


6.對(duì)缺陷厚度方向的位置、尺寸等不好確定。

除了一些根部缺陷在工作時(shí)可結(jié)合焊接知識(shí)和規(guī)律來確定其在厚度與方向的位置外,缺陷的高度可以通過成像中黑白的對(duì)比度來判斷,其準(zhǔn)確性不高,對(duì)于較小的裂紋缺陷,則會(huì)增加測(cè)量的誤差。


7.安全防護(hù)與輻射性!

正業(yè)科技Xray檢測(cè)設(shè)備具備多重防護(hù)功能 1、主體設(shè)備有鉛防隔離保護(hù) 2、鉛門有安全互鎖功能,鉛門開啟時(shí)會(huì)自動(dòng)關(guān)閉射線 3、符合國(guó)際安全輻射標(biāo)準(zhǔn)<1uSv/h>


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