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您的位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 膜厚測量儀  >  X射線鍍層測厚儀  >  XDLM231菲希爾XRAY鍍層測厚儀

菲希爾XRAY鍍層測厚儀

描述:菲希爾XRAY鍍層測厚儀可用于測量所有金屬鍍層的厚度以及多鍍層或者合金成分分析,也可以進行電解溶液含量成份分析,帶有國家環(huán)保局豁免證書,無放射源設(shè)計,安全環(huán)保。主要用于微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層測量、分析。

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    產(chǎn)品型號:XDLM231
  • 02/

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 03/

    更新時間:2023-05-09
  • 04/

    訪問量:1061

公司產(chǎn)品系列

Product range

咨詢熱線:

4006655066
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詳細內(nèi)容/ Product Details
品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間50萬-100萬
產(chǎn)地類別進口應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子

菲希爾XRAY鍍層測厚儀用途:

可用于測量所有金屬鍍層的厚度以及多鍍層或者合金成分分析,也可以進行電解溶液含量成份分析,帶有國家環(huán)保局豁免證書,無放射源設(shè)計,安全環(huán)保。主要用于微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層測量、分析。

 

菲希爾XRAY鍍層測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

1、測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件;

2、測量微小區(qū)域上的薄鍍層;

3、測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層;

4、全自動測量,如測量印刷線路板。


技術(shù)參數(shù):

         型號

項目

XDLM-231

XDLM-237

通用規(guī)格

設(shè)計用途

能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) ,測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)樣品,分析合金組分

元素范圍

從元素氯 (17) 到鈾 (92),最多可以同時測定24種元素

 

 

 

 

 

工作臺

 

平臺

固定式樣品平臺

馬達驅(qū)動可編程X/Y平臺

可用樣品平臺

463mm x 500mm

300mm x 350mm

X/Y平臺最大移動距離

\

255mm x 235mm

X/Y平臺最大移動速度

\

≤80mm/s

X/Y平臺移動重復(fù)精度

\

≤0.01mm(單向)

樣品最大重量

20kg

5kg,降低精度可達20kg

樣品最高高度

140mm

電氣參數(shù)

電原要求

AC 220V 50HZ

功耗

最大120W(測量頭,不包括計算機)

保護等級

IP40

環(huán)境要求

 

使用溫度

10℃-40℃

存儲或運輸時溫度

0℃-50℃

空氣相對濕度

≤95%,不結(jié)露

計算單元

計算機

Windows®-PC

軟件

標準:Fischer WinFTM® BASIC

可選:Fischer WinFTM® PDM®,SUPER

尺寸規(guī)格

外部尺寸

570mm×760mm×650mm

內(nèi)部測量艙尺寸

460mm x 495mm x146mm

重量

120kg

 


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