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線寬檢測(cè)儀XK25

描述：測(cè)量精度：±1um 總放大倍率：70X-450X 線寬：20um~1200um

  • 01/

    產(chǎn)品型號(hào)：

  • 02/

    廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

  • 03/

    更新時(shí)間：2023-10-18

  • 04/

    訪問(wèn)量：420
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詳細(xì)內(nèi)容/ Product Details

線寬檢測(cè)儀適用于檢測(cè)PCB內(nèi)、外層蝕刻后（上綠油前）線路的上幅及下幅寬度，也可檢測(cè)線間距離、孔到邊線距離，以及圓孔、盲孔和弧的直徑等。并適用于IC晶片、薄膜和LCD等線寬線距的測(cè)量。

1、精準(zhǔn)：采用可精密調(diào)焦裝置，以及圖像處理、自動(dòng)尋邊和亞像素算法等技術(shù)；
2、高效：

               ①紅光LED定位；

               ②自動(dòng)尋邊技術(shù)；

               ③具備SPC統(tǒng)計(jì)分析功能。

精準(zhǔn)

①測(cè)量精度：±1μm

0.4～2.7μm/pixel

③總放大倍率：70～450X

④光學(xué)放大倍率：1.4～9×連續(xù)可調(diào)

對(duì)象

①板寬：≤760mm

②0.53×0.4～3.3mm×2.5mm

③線寬：20-1200um

儀器外形尺寸（不含電腦）

XK25

960*780*1280mm

重量

145Kg

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